TurboCheck™
- テスタビリティ解析
TurboCheck™
はテスタビリティ解析ツール です。RTL レベルとゲートレベルの両方のデジタル設計をサポートします。 TurboCheckは順序回路のテスタビリティを解析し、設計者が回路の最終的な故障検出率を改善するためのテストソリューションを提供します。
TurboCheckはノンスキャン、パーシャルスキャン、フル・スキャンを扱えます。というのはそれは回路トポロジの静的ツールオペレーティングであり、解析のためにテストベクタを必要としません。
TurboScan™ - スキャン合成と自動テストパターン生成（ATPG）
TurboScan™
は高度なフルスキャンとパーシャルスキャンをサポートしたテストスイートです。本製品はスキャン合成と自動テストパターン生成（ATPG)を含みます。
TurboScanは自動的にテスタビリティのバイオレーションを修復して、デザインのテスト性を高めます。ATPGエンジンは非常に高い故障検出率を達成し、テストパターンサイズを最大50%小さくするために高度なサーチ＆圧縮アルゴリズムを使用しています.
TurboScanは製品の不良品レベルを減少させ、テストコストを削減します。
TurboBSD™ - バウンダリ・スキャン
TurboBSD™ はSynTest社のハイパフォーマンスバウンダリスキャンデザイナです。それらはIEEE1149.1バウンダリ・スキャン・スタンダードに100%対応しています。TurboBSD
はバウンダリ・スキャン論理合成を実現し、BSDL (バウンダリ・スキャン・記述言語 )ファイルを生成します。そしてバウンダリスキャンテストパターンを発生します。すべてのこれらの作業はツールにより自動的に行われ、バウンダリスキャン設計を直接プロセスにします。
TurboBIST™ - ビルト・イン・セルフテスト
TurboBIST™
はロジックのための(TurboBIST™ - Logic)とメモリ (TurboBIST™
- Memory) (SRAM, ROM, DRAM and CAM) ビルトインセルフテストツールを含む
SynTest社の製品ファミリです。これらのツールはサードパーティのIPコアを含むメモリブロックと機能論理をとりかこむBISTロジックを合成します。そして大規模で複雑なシリコンチップの非常に高い故障検出率テスティング
に必要なテストパターンを自動的に作成します。
TurboDebug-PCB™ 内部接続故障のためのシステムデバッグ
TurboDebug™, はSyntest社の製品ファミリです。SoCチップとシステムボードのデバッグのための多様なツールとシステムです。
TurboDebug-PCBは1個あるいは多くのSoCをもつシステムボード上の連結故障をデバッギングする製品です。それはPCBのオープンフォルト、ショートフォルトを発見するバウンダリスキャンチェーンに使用します。これはPCIスロットをもち、LinuxOSが動作するどんなPC上で操作できます。
TurboDFT™ DFTツールスイート
TurboDFT™ は非常にパワフルで有効なDFT統合ツールスイートをです。 TurboDFT はSyntestあるいはほかのベンダを使用して作られたDFTコアを自動的につなぎ合せ統合することを可能にします。
Rtlmsdbスクリプトとコマンドはバウンダリスキャンコントロールの有無に関わらず、DFTコアを自動的につなぎ合わせるために供給されます。
TurboDFTはインテグレーションの容易性の利益をもたらし、単純で、エラーを起こす傾向の高いマニュアルステッチングプロセスを省きます。
