TurboBIST-Logic　
"At-speed"テスト　

TurboBIST-LogicはスキャンチェーンのPRPG(Psendo-Random Pattern Generation) 技術とMISR(Multiple-Input Signature Resister)を採用しています。 デザインアーキテクチャ特有のPRPG, MISR＆ コントローラはVerilogあるいはVHDL RTLレベルで合成されます。

SynTest総合ツールセットであるスキャンチェーンはのセレクション、リペア､リオーダとデバックの実行を簡単にします。ユニークなマルチ・キャプチャ・パ・サイクル・スキーマは、特に非常に大規模で複雑なマルチ周波数クロックドメインのデザインにおいて、故障検出率を改善します。それは増加したテスタビリティと故障検出のためにデザインにおけるテストポイントを挿入することを可能にします。 TurboBIST-Logicは非常に速いサイクルベース故障シミュレータをもつ故障検出解析です。

故障検出率を向上し、テストポイント挿入に関連するオーバヘッドと反復を少なくするため、TurboBIST-Logic はパーシャルスキャンとフルスキャンをサポートするSynTestの独自のシーケンシャルATPG技術を2段階で動作させます。

TurboBIST-Logic は広範囲なボード/システムレベルテストを可能にする、SoCレベルのテスタビリティ 計画を履行するために SynTest 社製バウンダリースキャン (TurboBSD) と メモリBIST (TurboBIST-Memory) 製品と連動します。

メリット

• マルチ周波数クロックドメインのための”At-speed"テスト

• 全てのクロックドメインの同時テスト

• サイクルごとのマルチキャプチャで故障検出率を向上する。

• テストポイント挿入

• マルチシードドストラテジをサポート

• SynTest's TurboScan-ATPG と併用し、テスト時間を節減し、高い故障検出を実現。

• 最速、サイクルベースフォルトシミュレーション

• 大部分のBISTバイオレーションを自動修復

その他の情報

フォルトカバーレージを増大するためTurboBIST-Logicでの結果は最速のコンカラント・フォルト・シミュレータであるSynTest's TurboFault -に渡すことができます。

稼動プラットホーム

• Sun Solaris
  

• HP-UX
  

• Linux