TurboBIST-MemoryはSRAM, ROM, SDRAM と CAMを含む全てのタイプのエンベッドメモリに、より効率的なBIST構成にするためのツールを含む SynTest社の製品ファミリです。これらのSynTestのテスタビリティ解析の完全なスイートであるツール、ATPGとフォルトシミュレーションソリューション、メモリのブロックの周辺のBISTロジックの自動合成、テストパターンの生成は、大規模で複雑なシステムオンチップICの非常に高い故障検出率を出すのに必要なテストパターンを生成します。

チップ上の IEEE 1149.1 対応のTAPコントローラは、すべてのタイプのマルチBISTエンベッドメモリセルをコントロールするのに使用されます。同様にコントロール・スキャンとバウンダリ・スキャンに使用でき、シリコンオーバヘッドを最小にすることができます。

メリット

• 自動的にクラシカルパターン、または、ユーザ構成テストパターンテストを生成。

• March C-、Moving　Inversion　March,March C++とチェックボードを含む

• シェアドコントローラにより、同時に、マルチBISTメモリを同時にテストする。

• エンベッドSRAM, ROM, SDRAMと CAMをサポート

• 論理合成可能なVerilog/VHDL 合成 RTLコードを出力

• ロジック合成スクリプトを出力

• テスト設計時間を削減するためVerilog/VHDLテストベンチコードを自動的に生成。

その他の情報

SDRAM と CAM BIST はSynTest社アプリケーションエンジニアグループからサービスが受けられます。 SRAM と ROM BIST はSynTeｓｔのサービスグループあるいはインハウスツールのライセンスを購入していただくことも可能です。プログラマブルSRAM BISTもサービスとして可能です。

稼動プラットホーム

• Sun Solaris
  

• HP-UX
  

• Linux