TurboScan™ は高度なフル・スキャンとパーシャル・スキャン・テストのスイートです。それはスキャン合成と自動テスト・パターン生成（ATPG)を含みます。TurboScanは自動的にテスタビリティ・バイオレーションを修正して、設計のテスタビリティを高めます。ATPGエンジンは高度なサーチと圧縮技術を使用し、高いフォルトカバレージを達成します、そしてパターンサイズを５０％まで小さくします。 TurboScanは製品の故障レベルを減らし、テストコストを削減します。

スキャン選択と合成

TurboScanは柔軟なスキャンセレクションをサポートします。 それは回路のクロック・ドメインに基づき、自動的にスキャン選択を実行します。ユーザは 自由にスキャン例リストを指定することができます。スキャンポートは一つかあるいはマルチスキャンチェーンに構成することができます。

TurboScanはミックス・スキャン、クロック・スキャン、LSSDの3つのスキャン・セルタイプをサポートします。 TurboScan はテスタビリティ・バイオレーションを修復するため、自動的に回路を合成します。 TurboScanはスキャンチェーンの配線のエリア・オーバヘッドを最小にするよう、レイアウトプロセスと協調して働く、スキャン再順序 機能提供します。 これはスキャン・スティチングと独立した初期チップ配置を可能にします。さらにスキャン挿入のタイミングの影響を減らします。

スキャン抽出とデバック

TurboScanは既に合成されたスキャンチェーンを含む設計のどんなブロックも認識する内蔵されたスキャン抽出ユーティリティです。そのあと、これらの既存のスキャンチェーンを設計に組み込むことができます。

完全なスキャンチェーンの検証とスキャン・ルール・バイオレーションをチェックするために、 TurboScanは自動的にシミュレーションによりスキャン・チェーン・アーキテクチャを検証します。このプロセスはスキャン合成が完了したあと実行され、有効なテストパターンがシフトされ、そして、スキャンチェーンを通じて、正確な結果を獲得られるかどうか確認します。

シーケンシャルとコンビネーションATPG

TurboScanはフルスキャン、パーシャルスキャンとノンスキャン設計のために高い最適化されたテストセットを作成するためシーケンシャルとコンビネーションATPGを含みます。 他のフルスキャンのみ、あるいは同期順序回路をハンドルするだけのATPGプログラムとは違い、TurboScanアルゴリズムはゲート・クロックを含む 非同期シーケンシャル回路、RAM,ROM,トライ・ステート・ゲート、非同期セット/リセットやユニディレクショナルMOSトランジスタでも扱うことができます。フル・スキャンデザインのために、シーケンシャルATPGはコンビネーションATPGのあとで使用され故障検出率を改善します。

非常に高い故障検出率

TurboScanは最先端の技術を備えており、それがなければ、低い故障検出率しかとりえないDFTのため複雑な設計構造を扱うことができます。例えば、 TurboScanは双方向ピン、透過ラッチ、バス・コンテンション解像度、リップルセット/リセット、バス・キーパやマルチ位相クロックを特別な処理を行います。 これらのタイプの構造は普通、他のATPGツールでは検出できない多くのフォルトを起こします。メモリをブラックボックスとして扱う代わりに TurboScan¨はライトとリードメモリをサポートします。これはメモリの周りで故障検出を可能にします。

TurboScanはATPGの間、スペースを探すことを減らすため、32ー値システム（伝統的な４-値システムに比べ）高度なATPGサーチエンジンを使用します。 これはATPG工程のスピードを改善し、さらに回路の故障検出率を上げます。

非常にコンパクトなテストセット

TurboScanはダイナミックおよびスタティックの両方の圧縮を利用することにより、非常に短いテストセットを提供します。 TurboSCANの一つの主要なメリットは最小数のテスタ・サイクルを提供することです。これは必要なテスタメモリのサイズを減らし、必要なテスト時間を短縮し、大幅にテストコストの削減を行います。

トランジッションとパス・ディレイ能力

TurboScanはトライステート可能ピンのような発見が難しいトランジッションフォルトもサポートします。加えて、 TurboScanのタイミングオプションは重要なパス遅延のためのテストパターンを作成し、タイミング解析からの誤ったパスを除外します。

ベクタ変換

TurboScanはATPGベクタをシリアルとパラレルの両方のVerilog/VHDLテストベンチやWGL、SONYやChipExpressのような他ベンダの特定フォーマットを含む、各種の出力フォーマットに変換します。

テスト・ジェネレーション・モデル

• フルスキャン、パーシャルスキャン、ノンスキャン
  

• フォルトモデル：縮退故障, Iddq, トランジッションとパス・ディレイ・フォルト
  

• トグル・トランジッションとトグル・ステートカバレージ

  　

サポート入力フォーマット

• Verilog, VHDL

稼動プラットホーム

• Sun Solaris
  

• HP-UX
  

• Linux