光学式オールインワンセンサ
強力な測定能力
ZEISS ARAMIS 1は試験技術者のオールインワン測定ツールです。この光学測定システムは形状、変形、挙動に関する三次元データを提供します。これにより、光学式ひずみゲージおよび変位センサとしての両方の機能を実現します。
ZEISS ARAMIS 1は試験技術者のオールインワン測定ツールです。この光学測定システムは形状、変形、挙動に関する三次元データを提供します。これにより、光学式ひずみゲージおよび変位センサとしての両方の機能を実現します。
デジタルカメラ技術と強力な画像処理アルゴリズムにより、ZEISS ARAMIS 1は画像や動画から3D座標を正確に測定します。従来のような対象に貼付けるセンサのための配線や固定具は不要です。
ZEISS ARAMIS 1のような光学式センサは0.005%から2000%の範囲までの公称ひずみを測定でき、変位についても広大な測定範囲を提供します。
ZEISS ARAMIS 1は高品質な光学式測定システムです。本システムの性能に関してはVDI規格に基づいて測定器として精度が担保され、その結果報告書は出荷前品質管理プロセスの一環としてシステムに付属されます。
ZEISS CORRELATEソフトウェアは、3D空間における運動と変形の解析のためのデジタル画像相関法およびポイントトラッキングアルゴリズムを備えています。
ARAMIS 1 システムはプロフェッショナル解析ライセンスにも対応し、テンプレートやAddOnアプリなどを用いた自動化機能をさらに拡張します。
ZEISS ARAMIS 1はひずみ、変位、変形の光学式3D測定を開始するために必要なすべてをひとつのパッケージに収めています。
数十年にわたり実績のある信頼性を誇るARAMIS Adjustableセンサファミリーの技術を受け継いだ新型ARAMIS 1では、工具不要でセンサ上の主要な測定設定パラメータをすべて変更可能です。
ZEISS ARAMIS 1には、材料特性評価のための材料試験や小型アセンブリや部品などの準静的試験に対して、光学測定を開始するために必要なすべての機能が含まれています。互換性のあるハードウェアおよびソフトウェアのアップグレードオプションにより、測定と解析の体験をさらに向上させることができます。
ZEISS CORRELATE Proは完全なパラメトリックコンセプトに基づき、測定結果の完全なトレーサビリティを確保するため、すべての検査ステップをバックグラウンドで保存しています。これによるプロジェクトテンプレートを用いることで分析とレポート作成に必要な時間を大幅に短縮します。さらにAddOnアプリにより特定の測定タスク向けの機能拡張を提供します。
ZEISS ARAMIS 1は材料や小型部品の準静的試験におけるひずみ、変位、変形の測定に適しています。
ZEISS ARAMIS 1は広大な測定範囲内のひずみを計測し、試験片のネッキングや破断の詳細な解析を実現します。
ZEISS ARAMIS 1による全領域のひずみ分布結果は二軸引張試験の評価に最適です。変形の均一な進展を直接確認できます。
数千のデータポイントにより、破壊モードやひずみ分布の詳細な解析が可能です。オプションのタッチプローブを活用すれば、試験治具の位置合わせや間隔を容易に測定・補正できます。
測定範囲が約50~500mmに対応したZEISS ARAMIS 1は、小型部品の機械的・熱機械的試験に最適な光学式センサです。

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