ZEISS METROTOM 6 scout最高解像度を生み出す新たな工業用計測CT

内部構造を持つ部品の非破壊3D検査

ZEISS METROTOM 6 scoutは内部形状を含んだ複雑部品を限りなく詳細に測定し、
GD&T解析や設計値との比較評価のための完全な3D結果が得られます。
特に小型プラスチック部品および軽量金属部品のデジタル化に優れています。

  • 最高の解像度3K X線検出器(3008×2512ピクセル)
  • 最高の精度測定室の数学モデリングによって実現
  • 測定物の自動位置決め5軸キネマティクスとソフトウェアのライブビュー
  • オールインワンのソフトウェア一貫したワークフローを実現

他システムでは見つからないものを明らかにする

ZEISS METROTOM 6 scoutは細部にわたって対象物を鮮明にデジタル化します。
最適な測定位置で高解像度の3K X線検出器を用いて常に最高解像度で測定します。

ZEISS METROTOM 6 scoutの測定データは
すべての細部にわたって高解像度です。
この写真はイヤホンの部品(総直径: 1cm)は
ZEISS METROTOM 6 scoutで測定されています。
単一のグリッド要素の直径は0.1mmです。

ZEISS METROTOM 6 scoutの解像度

他社製CTの解像度

最高精度の保証

ZEISS METROTOM 6 scoutは数学的なインテリジェンスを用いて正確な3D測定データを生み出します。
測定結果に基づき真に信頼できる非常に正確な方法で測定物の品質を評価し、さらに詳細な解析を実施できます。

測定物の容易な芯出し

芯出しテーブルを統合した5軸キネマティクスによって測定物を最適位置に配置できます。
測定物を設置するだけで残りはソフトウェアによって実行されます。

高度に自動化された測定ソリューション

コンピュータ断層撮影に関する専門知識のない作業員でも操作可能にするために、測定と検査をどちらも自動的に実行すると同時に量産検査を実現するための高スループットを達成するためにGOMはスマートなワークフローを開発しました。

オールインワンのソフトウェア

計測CTの制御によるデータ測定とその測定データの評価を一つのソフトウェアパッケージに統合しました。
データ測定から検査・評価、レポート作成に至るまでのプロセスチェーンが大幅に簡素化されています。

技術データ

X線源 225kV
X線検出器 解像度: 3008 x 2512 ピクセル
測定範囲 Ø 240 mm h: 400 mm
ボクセルサイズ 2 µm – 80 µm
装置寸法 H. 2210 mm、W. 2200 mm、D. 1230 mm
装置重量 4800 kg
応用分野 初回製品検査、工具修正、量産における検査
検査機能 内部構造評価、肉厚評価、材料欠陥評価、細孔評価、引け巣評価
測定業務 GD&T解析、設計値と実測値の比較評価、組付け解析

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