ZEISS METROTOM 6最高解像度を生み出す新たな工業用計測CT

内部構造を持つ部品の非破壊3D検査

ZEISS METROTOM 6は内部形状を含んだ複雑部品を限りなく詳細に測定し、
GD&T解析や設計値との比較評価のための完全な3D結果が得られます。
特に小型プラスチック部品および軽量金属部品のデジタル化に優れています。

ZEISS METROTOM 6 scoutは数学的なインテリジェンスを用いて正確な3D測定データを生み出します。
測定結果に基づき真に信頼できる非常に正確な方法で測定物の品質を評価し、さらに詳細な解析を実施できます。

芯出しテーブルを統合した5軸キネマティクスによって測定物を最適位置に配置できます。
測定物を設置するだけで残りはソフトウェアによって実行されます。

コンピュータ断層撮影に関する専門知識のない作業員でも操作可能にするために、測定と検査をどちらも自動的に実行すると同時に量産検査を実現するための高スループットを達成するためにGOMはスマートなワークフローを開発しました。

計測CTの制御によるデータ測定とその測定データの評価を一つのソフトウェアパッケージに統合しました。
データ測定から検査・評価、レポート作成に至るまでのプロセスチェーンが大幅に簡素化されています。

X線源	225kV
X線検出器	解像度: 3008 x 2512 ピクセル
測定範囲	Ø 240 mm h: 400 mm
ボクセルサイズ	2 µm – 80 µm
装置寸法	H. 2210 mm、W. 2200 mm、D. 1230 mm
装置重量	4800 kg
応用分野	初回製品検査、工具修正、量産における検査
検査機能	内部構造評価、肉厚評価、材料欠陥評価、細孔評価、引け巣評価
測定業務	GD&T解析、設計値と実測値の比較評価、組付け解析