TRITOP光学式3D座標測定器

モバイル測定システム

ポータブルなTRITOP CMMシステムは対象物の3D座標を素早くかつ正確に測定します。従来の接触式3D座標測定機で実行していた測定業務もTRITOP CMMシステムで簡単に実行できます。軽量かつ複雑なメンテナンスを必要せず、モバイル測定が可能です。

接触式3D座標測定機と同様にTRITOPシステムは対象物の空間座標とベクトルを測定します。

表面点と断面
プリミティブ形状
穴、パンチ穴、エッジ
直径、長さ、角度

3D座標が特定された後に対象物の座標系に測定値が変換されます。

RPS
ゲージの位置合わせ
ベストフィット

測定データをCADデータ（IGES、VDA、STEP、Catia、ProE、UG）と比較する際に対応する測定レポートが一般的な形式で作成されます。

偏差のカラー表示
個別点の偏差ラベル
断面、角度、距離
直径、平坦度
表とリスト

位置合わせされた測定データはさまざまな業務に使用されます。

CAD比較
形状および位置の公差の確認
図面、ファイル、表からの仕様の確認
初期測定

用途

プレス板金部品や車体部品の検査（例: 試作品、製造プロセス最適化、金型試作、抜き取り品など）
大型対象物の品質管理（例: 航空機、船舶、風力タービンなど）
プラスチック部品の検証（例: 初回製品検査など）
治具の検証とデータ取得
モデル品や試作品の測定（例: 車両インテリアやエクステリアのデザインなど）
チューブやワイヤなどの3次元形状検証
プレス板金材料のトリムエッジ測定
恒温試験による自動車の変形解析
Measuring of reference point fields

静的変形解析

TRITOPシステムは準静的状態にある測定物の3D座標を正確に定義するモバイル光学式測定システムです。この情報に基づいてTRITOPシステムでは測定物の3D変位および変形を計算できます。

非接触式のTRITOPシステムは従来の変位測定システムまたはLVDTの代替ソリューションとなり、測定物またはその周囲にケーブルやセンサを必要とせずに3D変位および変形を迅速に捉えます。